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dc.contributor.authorKarlla Delalibera Chagas
dc.contributor.authorFernando Antonio Moala
dc.creatorFaculdade de Ciências e Tecnologia - UNESP.
dc.date.accessioned2024-11-13T19:17:16Z
dc.date.available2024-11-13T19:17:16Z
dc.date.issued2017-10-17
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/1884/92977
dc.description.abstractNeste trabalho temos o intuito de realizar um estudo sobre como modelar dados que advém de um teste acelerado. Para isso, iremos considerar o caso em que a carga de estresse aplicada foi do tipo "step-stress" simples. Para a modelagem, utilizaremos o modelo "step-stress" simples com censura tipo II, e iremos considerar que os tempos de vida dos itens em teste seguem uma distribuição Gama. Será realizada uma abordagem clássica, por meio do método de máxima verossimilhança, e também uma abordagem Bayesiana, usando prioris Gama, para estimar os parâmetros da distribuição. Temos como objetivo realizar a comparação destes dois métodos por meio de simulações para diferentes tamanhos amostrais, e através de alguns índices, iremos verificar qual desses dois métodos inferenciais se aproxima mais dos verdadeiros valores dos parâmetros.
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.relation.ispartofII Simpósio de Métodos Numéricos em Engenharia (2017)
dc.subjectTestes acelerados
dc.subjectStep-Stress
dc.subjectMCMC
dc.subjectMáxima Verossimilhança
dc.subjectDistribuição Gama.
dc.titleInferência Bayesiana para testes acelerados "step-stress" simples com dados de falha sob censura tipo II e distribuição Gama.
dc.typeArtigo
dc.identifier.ocs544


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