Inferência Bayesiana para testes acelerados

Abstract

Neste trabalho temos o intuito de realizar um estudo sobre como modelar dados que advém de um teste acelerado. Para isso, iremos considerar o caso em que a carga de estresse aplicada foi do tipo "step-stress" simples. Para a modelagem, utilizaremos o modelo "step-stress" simples com censura tipo II, e iremos considerar que os tempos de vida dos itens em teste seguem uma distribuição Gama. Será realizada uma abordagem clássica, por meio do método de máxima verossimilhança, e também uma abordagem Bayesiana, usando prioris Gama, para estimar os parâmetros da distribuição. Temos como objetivo realizar a comparação destes dois métodos por meio de simulações para diferentes tamanhos amostrais, e através de alguns índices, iremos verificar qual desses dois métodos inferenciais se aproxima mais dos verdadeiros valores dos parâmetros.