Buscar
Itens para a visualização no momento 1-1 of 1
Caracterização de Si implantado com altas doses de oxigenio atraves de microscopia otica de interferencia e ataque quimico
(1991)
Resumo: A implantação de íons de O + em Si produz modificações em suas propriedades mecânicas, químicas e óticas. Usando técnicas de microscopia ótica de interferência e de ataque químico, observa-se um padrão de dissolução ...