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dc.contributor.authorPaludo, Rodrigopt_BR
dc.contributor.otherSwinka Filho, Vitoldopt_BR
dc.contributor.otherUniversidade Federal do Paraná. Setor de Tecnologia. Programa de Pós-Graduação em Engenharia e Ciência dos Materiais - PIPEpt_BR
dc.date.accessioned2021-05-07T16:36:43Z
dc.date.available2021-05-07T16:36:43Z
dc.date.issued2009pt_BR
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/1884/23341
dc.descriptionOrientador: Prof. Dr. Vitoldo Swinka Filhopt_BR
dc.descriptionDissertação (mestrado) - Universidade Federal do Paraná, Setor de Tecnologia, Programa de Pós-Graduaçao em Engenharia - PIPE. Defesa: Curitiba, 14/09/2010pt_BR
dc.descriptionBibliografia: fls.65-67pt_BR
dc.descriptionÁrea de concentraçao: Engenharia e Ciência dos Materiais - PIPEpt_BR
dc.description.abstractResumo: A Refletometria no Domínio do Tempo (Time Domain Reflectometry – TDR) é uma técnica utilizada para a localização de falhas em linhas de transmissão de alta, média e baixa tensão, na qual um pulso é aplicado no cabo e sua reflexão é analisada. Na presente dissertação, a TDR foi aplicada a cabos isolados de média tensão com e sem camada semicondutora. Através da análise de refletometria foi mostrado que em cabos envelhecidos em campo com camadas semicondutoras as refletometrias apresentam comportamento não previsto no modelo teórico clássico. Um novo modelo de circuito foi proposto e considera a resistência das camadas semicondutoras do cabo isolado. As refletometrias foram simuladas e os resultados foram comparados com refletometrias realizadas em cabos isolados com polietileno entrecruzado mostrando que o modelo proposto é adequado para esse tipo de cabo.pt_BR
dc.description.abstractAbstract: The Time Domain Reflectometry (TDR) is a technique used for locating faults on high, medium and low voltage transmission lines, in which a pulse is applied to the cable and its reflection is analyzed. In this dissertation, the TDR was applied to insulated cables of medium voltage with and without semiconducting layer. Through analysis of reflectometry, it was shown that the reflectometries in aged cables with semiconductor layers present a non-expected-behavior. Noticing this effect, a new model was proposed. The new model of circuit considers the semiconductor layers of the insulated cable. The reflectometries were simulated and the results were compared with reflectometries carried out in crosslinked polyethylene insulated cables, showing that the proposed model is suitable for this type of cable.pt_BR
dc.format.extent67f. : il. [algumas color.[, tabs., tabs.pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.languagePortuguêspt_BR
dc.relationDisponível em formato digitalpt_BR
dc.subjectTesespt_BR
dc.subjectEnergia eletrica - Transmissãopt_BR
dc.subjectCabos elétricospt_BR
dc.subjectSimulação (Computadores)pt_BR
dc.subjectEngenharia de Materiais e Metalurgiapt_BR
dc.titleRefletometria no domínio do tempo : análise do efeito das camadas semicondutoras de cabos isoladospt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR


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