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    Teste de linha de produto de software baseado em mutação do diagrama de características

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    R - D - JOHNNY MAIKEO FERREIRA.pdf (2.253Mb)
    Date
    2013-09-19
    Author
    Ferreira, Johnny Maikeo
    Metadata
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    Subject
    Dissertações
    Algoritmos de computador
    xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-type
    Dissertação
    Abstract
    Resumo: Uma linha de produto de software (LPS) pode ser definida como um conjunto de sistemas que compartilham um conjunto comum de características e que satisfazem os requisitos específicos de um determinado domínio. O desenvolvimento de software em linha de produto propõe soluções para os problemas causados pela rápida evolução e complexidade das aplicações. Metodologias de desenvolvimento de LPS têm como base alguns artefatos como, por exemplo, o modelo de características. Este modelo representa como as características são utilizadas durante a criação dos produtos, e também pode ser utilizado durante a atividade de teste, que se torna mais crítica e complexa quando comparada ao processo tradicional. O teste de todas as combinações de características, produtos, é impraticável devido à complexidade crescente das aplicações, e somente um subconjunto destes produtos pode ser testado. As técnicas existentes para seleção de produtos a partir do diagrama de características são geralmente baseadas em teste combinatorial, requerendo a combinação de pares de características do diagrama (teste pair-wise). Essas técnicas não consideram possíveis defeitos que estes diagramas podem conter. A aplicação de uma abordagem baseada em defeitos pode aumentar a probabilidade de encontrar defeitos e a confiança de que os produtos de uma LPS estão de acordo com os seus requisitos. Considerando esse fato, esse trabalho introduz uma abordagem baseada em teste de mutação para auxiliar na seleção de produtos para o teste de LPS. Para isso, são introduzidos operadores de mutação juntamente com um processo de teste e uma ferramenta de automatização. Por fim, são apresentados resultados experimentais, e uma comparação com o teste pair-wise, que demonstra que diferentes tipos de defeitos podem ser revelados pela abordagem introduzida.
    URI
    http://hdl.handle.net/1884/32122
    Collections
    • Dissertações [348]

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